解答 ３

粉末X線回折法測定法により得られる粉末X線回折データから結晶、結晶多形及び溶媒和結晶の同定、判定又は定量、結晶性の定性評価、結晶角などの評価に用いることができる。
本測定法は、原則として無配向化した粉末試料にX線を照射し、その物質中の電子を強制振動させることにより生じる干渉性散乱X線による回折強度を各回折角について測定する方法である。